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合肥科晶 M-5臺式四探針測試儀M-5臺式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器
更新時間:2024-12-08
合肥科晶 M-5臺式四探針測試儀
產(chǎn)品概述:
M-5臺式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。
合肥科晶 M-5臺式四探針測試儀產(chǎn)品特征:
測試儀由M-5型主機和四探針探頭以及快速恒壓四探針測試臺三部分組成
臺式設(shè)計,帶完善厚度、形狀修正功能,測試精準(zhǔn)
寬量程:超寬五個檔位,相當(dāng)于中檔臺式機的量程
操作簡便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤實現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,LED數(shù)字表頭顯示
多款探頭可選,適用于各種不同材料的導(dǎo)電性能測試
工作電源:
208-240V,50/60Hz
功率:20W
探頭:
根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配:
碳化鎢探針探頭(固體材料):φ0.5mm,探針間距1.0mm,測試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料
球形或平頭鍍金銅合金探針探頭(薄膜):φ0.7mm,探針間距2mm,可測金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底
上導(dǎo)電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層
探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差
選配:快速恒壓四探針測試臺,對測試壓力進行調(diào)節(jié)保證恒壓測試,提高測試的精確度
測量范圍、分辨率:
電阻:10-5~2*105Ω 分辨率:10-6~102 Ω
電阻率:10-5~2*105Ω-cm 分辨率:10-6~102 Ω-cm
方塊電阻:5*10-5~9*105Ω/m2 分辨率5*10-6~5*102Ω/m2
基本誤差:±1%FSB±2LSB
外形尺寸:220mm L × 245mm W × 100mm H
凈重:2.5kg
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