德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述：

德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀
型號(hào)：QNIX4200P
分體涂層測(cè)厚儀: 基體：Fe磁性基體，測(cè)量范圍：0-3000微米，探頭：分體探頭

更新時(shí)間：2024-12-08

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詳細(xì)介紹

德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀

型號(hào)：QNIX4200P

分體涂層測(cè)厚儀: 基體：Fe磁性基體，測(cè)量范圍：0-3000微米，探頭：分體探頭

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用極其簡(jiǎn)單。QNix4200P為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用極其簡(jiǎn)單。

QNix4200P為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

在傳統(tǒng)QNix4200基礎(chǔ)上，為了滿足客戶不同的需要，特推出QNix4200P（分體式）機(jī)，探頭和主機(jī)之間通過一根探頭線連接起來(lái)，可以滿足特定測(cè)量環(huán)境（比如狹小空間）的需要，測(cè)量更方便，使用更人性化，性價(jià)比更高

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：

分體化設(shè)計(jì)，滿足不同環(huán)境的測(cè)量

只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)

體積小巧，操作方便

精度高

價(jià)格便宜

德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
磁性基體(Fe模式)	QNix4200P有此功能
測(cè)量范圍	Fe:0-3000um
顯示精度	0.1um
精度	0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) 1000-3000um≤±3%讀數(shù)
小接觸面	10×10mm
小曲率半徑	凸面：3mm 凹面：25mm
小基體厚度	Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補(bǔ)償范圍	0-60℃
顯示	LCD液晶(帶背光)
探頭	紅寶石固定式
電源	2×1.5V干電池
尺寸	100×60×27mm
重量	110g

QNix® 4200P SONDEN

Sonde	Messbereich		Substrat	Abweichung
QNix® 4200 3 mm	3000 µm		Fe	+/- (3% +- 2 µm)
QNix® 4200 5 mm	5000 µm		Fe	0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) ?2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm)
Kleinste Messfläche		Kleinster Krümmungsradius			Kleinste Dicke des Substrats
∅ 25 mm		Konvex: 5 mm ?Konkav: 5 mm			200 µm